ISO 26262에 따르면, 가혹한 환경 조건으로 인해 발생하는 불규칙한 오류에 대응할 수 있도록 충분히 안정적으로 설계가 이뤄져야 한다. <BR>우주선과 알파 입자가 반도체 내부에서 하나 이상의 플립플롭 상태를 변화시키거나 순 가치를 일시적으로 변화시키기에 충분한 전하를 만들어낼 수 있다는 것이 알려졌다. 노화 효과로 인해 플립플롭이 장기간 동안 값을 유지하지 못할 수도 있다. 이러한 장애는 비트 반전(BF)과 같이 일시적인 속성을 가지거나 디바이스의 마모로 인한 영구적인 속성을 가질 수 있다. 장애는 디바이스의 오작동과 그에 따른 안전 목표의 위반(손상 발생)으로 이어질 수 있다. <BR><BR> <P>기사원문보기 : <A href=&quot;http://www.autoelectronics.co.kr/new/article/articleView.asp?idx=821&quot;>http://www.autoelectronics.co.kr/new/article/articleView.asp?idx=821</A></P>